一、核心測量性能： CD-5000系列光譜共焦位移傳感器其測量性能達到行業前沿，可滿足超精密場景的嚴苛需求：

• 超高精度與分辨率：實現亞微米級級位移測量，線性度高達 0.49μm，通過光譜色差原理放大顏色光信號，擺脫光強變化干擾，穩定性遠超傳統激光三角法，確保長期測量數據可靠。

• 非接觸式測量設計：無需與被測物體直接接觸，從根源上避免表面劃傷、形變等損傷問題，尤其適配晶圓、薄膜、光學鏡片等精密器件，以及橡膠、塑料等易變形材料的測量需求。

• 高速實時監測能力：采樣頻率可達260kHz，能快速捕捉動態物體的位移變化，滿足生產線實時控制、動態部件監測等高頻場景需求。

二、強環境適應性： 針對工業現場電磁干擾、溫度波動、光照變化等復雜環境，CD-5000系列光譜共焦位移傳感器通過多重防護設計保障測量穩定性：

• 抗電磁干擾能力：探頭采用純光學結構，無電氣元件，通過光纖與控制器連接，有效隔離現場電機、設備等產生的電磁干擾；同時光纖對雷電浪涌不敏感，控制器內置隔離元件與防護電路，進一步提升電氣可靠性，適配電力、工業自動化等強電磁環境。

• 優異溫度穩定性：鏡頭無熱源設計，溫漂極小；關鍵結構采用低熱膨脹系數材料，并搭配雙層殼體減震結構，減少環境溫度變化與機械震動對測量的影響，抗震性能優異，可在高低溫波動、多震動的車間環境中穩定工作。

三、廣材質兼容性： CD-5000系列光譜共焦位移傳感器打破傳統傳感器對材質、表面形態的限制，可應對多種特殊材質與復雜幾何結構的測量需求：

• 全材質普適性：無需調整測量參數，即可輕松測量鏡面（如金屬反光件）、透明 / 半透明體（如玻璃、樹脂、液滴）、粗糙表面（如鑄造件、噴砂件）、金屬、陶瓷等各類材質，無需反復調整角度、易出現測量失效的問題。

• 復雜幾何適應性：可測傾角達 60°，即使被測物體存在傾斜、翹曲（如彎曲的薄膜、異形構件），測量點仍保持穩定，無位置偏移；同軸光路設計，通過多方向光線照射，可測量傳統激光傳感器因遮擋無法觸及的區域（如深腔、凹槽內側）。

• 多層與厚度測量：單次掃描即可識別***多 5 層透明介質（如復合光學薄膜、多層樹脂板材），厚度測量下限低至 5μm；支持透明物體單向厚度測量，無需雙面校準，適配光學薄膜厚度檢測、晶圓減薄監控、透明容器壁厚測量等場景。

四、工程化設計： CD-5000系列光譜共焦位移傳感器以 “降本增效、靈活部署” 為設計理念，產品在結構、功能上充分貼合工業應用需求：

• 模塊化與小型化：鏡頭與控制器通過光纖分離，鏡頭體積小巧，可實現多探頭并排安裝（如同時測量多工位、多尺寸），輕松適配狹窄空間（如管道內徑、精密模具型腔）的測量需求，減少設備占用空間。

• 多通道成本優勢：單臺控制器可同時連接多個傳感器，無需為每個測量工位配置獨立控制器，顯著降低設備采購與運維成本，適合大規模生產線多點位同步測量（如顯示屏面板多點厚度檢測）。

產品核心價值 光子精密光譜共焦位移傳感器以 “高精度、高穩定、廣兼容、易部署” 為核心，可廣泛應用于半導體制造（晶圓厚度 / 平整度測量）、光學器件（鏡片曲率 / 薄膜厚度檢測）、汽車工業（精密部件尺寸監控）、3C 電子（顯示屏玻璃厚度 / 外殼平整度檢測）等領域，幫助企業提升測量效率、保障產品精度，助力工業生產向更高精度、更智能化方向升級。